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扫描电子显微镜中电子光学系统的不同作用较重要参数(之二)

发布时间: 2015-9-8 9:31:41 发布人: Z发布   下一篇:如何正确的进行高分子材料的加工固体材料显微镜观测 上一篇:扫描电子显微镜中电子光学系统的不同作用较重要参数(之一)

扫描电子显微镜中电子光学系统的不同作用较重要参数(之二)

    如果我们进行试样制备的时候,需要注意制样的质量
和厚度,这两种情况最好是能够保持一致,这就可以得
出二次电子的逸出率,而不仅仅是为了表面外形的参
数,或者是其入射角测量,

    通过二次的电子检测,我们从显示的系统中,可以得
出试样中每一个点的信号,这样也可以保持其像素的亮
度的变化和其是一致的,

     这样的话,我们在进行扫描的时候,就可以让探针
和扫描的电子同时进行了,试样上的电子数量也可以
和像素的亮度在一个点上,

     二次检测的电子束有一个很特别的点 ,那就是其信
号越强,其像素就越亮,情况相反的话,就较暗,这样
的过程就称为试样表面上外形形状的二次电子显微像。

出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文地址:http://www.kepu17.com/zn/1816.html  
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