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光学显微镜配置的新系统研究晶体的双折射

发布时间: 2014-10-14 9:30:13 发布人: Z发布   下一篇:偏光显微镜检测头发染色剂的结构是否合格 上一篇:倒置显微镜下观测纤维状态变化纳米级的精度

光学显微镜配置的新系统研究晶体的双折射

    研究晶体光学系统特征值的方法,对于几
何椭球模型的分析,替代了线性的双折射,

    光轴和线性的本征研究是在透明的非光学
的活性,以及各向异性晶体的光传播,

    我们所熟悉的功能充分解释了菲涅耳椭球
模型或椭球相关的指标。

    然而,这些模型不能在圆双折射的帐户和
线性的双折射。所有的双折射都可以显示,

    然而,这是一个适当的多极值的理论解释,
并提出了电偶极描述的椭球模型的形式化基础。

    这个描述的解析形式作为反对的椭球体方
案,这主要的是进行的几何处理,

     并设置了系统的多极的方法,通过上下的
方法描述其双折射显微镜。此外,它还提
供了一些新的见解和成果。
出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文地址:http://www.kepu17.com/zn/1488.html  
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