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测量显微镜的位移与合成波长的干涉技术

发布时间: 2014-8-5 9:49:37 发布人: Z发布   下一篇:偏振显微镜测量薄膜的厚度是最优的仪器 上一篇:光学显微镜对测量方面的研究,专业的测量仪器

测量显微镜的位移与合成波长的干涉技术

    通过使用一种基于迈克尔干涉技术中的
一个双调制技术,测量显微镜绝对是一种
新颖的位移方法,

    实验中可能会提出一种用于测量的绝对
的位移与合成波长的干涉技术。
     干涉仪的光学相位调制同时用于频率的
调制,激光二极管在光路长度有一定的差异。

    该误差的信号从源的强度调制的始发是由
于信号处理电路的消除。
    此外,一个锁相技术用于解调干涉信号
的包络。该位移信号由自混合技术而得。

出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文地址:http://www.kepu17.com/zn/1418.html  
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