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一维光子晶体上折射率的变化,近红外光谱显微镜

发布时间: 2014-5-31 9:36:35 发布人: Z发布   下一篇:三阶色散的稳定性在克尔频率梳,光纤显微镜的谐振器 上一篇:非线性共振的技术的研究--克尔频率梳的技术

一维光子晶体上折射率的变化,近红外光谱显微镜

       如果可以结合无标记表面的荧光显微镜的操
作了光波学传感器,我们的实验报告了设计的
制造,并基于传播在一维光子晶体的边缘,
      显微镜表面波的光包括了传感器的特性,这
些传感器可以在两个无标记的模式,显微镜检
测到在表面上小折射率的变化,
      以及荧光显微镜的模式,其中是从表面层附
近的新型染料标记的荧光收集,这被同时操作
在两种操作模式中的近红外光谱,
      光学仪器范围内的光学读出了装置相同的结
构,检测的有限元被表示为等效表面等离子体
传感器的较小的荧光收集效率是这样的,它
可以有效地用于无标记的操作,我们可利
用相同的相机传感器进行分析。
      采用的三个多项式镜的自由曲面包
括了离轴光学系统的装配。
出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文地址:http://www.kepu17.com/zn/1357.html  
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