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低相干光学中的反射技术,纤维试样的检测技术

发布时间: 2014-5-18 6:43:10 发布人: Z发布   下一篇:三维光学系统和相移技术,三维显微镜的系统配置 上一篇:液晶体在微透镜下的观测,偏振显微镜的观察

低相干光学中的反射技术,纤维试样的检测技术

   相位敏感的光学研究中包括了低相干的反射技术,这
样的技术可以应用到光子晶体的光纤,其性能的表
征现象表现了色散的速度与色彩,
   而在光子晶体光纤的双折射中,首先需要进行局部的测
量,这是利用进行相位敏感技术来研究的,可以利用光
学低相干反射技术来实现。
   这种技术包括了有效的纤维试样检测,不过这种情况需
要检测显微镜来完成,不过得出的数据不超过1微米。
   可是在理论研究中,模拟的结果与实验的结果吻合非
常良好。其最后的结果是通过应变能力引起的双折
射技术,这样的技术被证明是在不同的几
何形状下形成的,这样双折射的幅
度可能会达到最长的距离。

出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文地址:http://www.kepu17.com/zn/1344.html  
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