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光的折变与纳秒脉冲的光照测试荧光显微镜

发布时间: 2014-10-11 9:33:34 发布人: Z发布   下一篇:介绍显微镜下晶体的发亮与透明物质的不同 上一篇:如何监测红外波段试样光学显微镜的技术

光的折变与纳秒脉冲的光照测试荧光显微镜

    光的折变与纳秒脉冲的光照进行了实验,
比较这两个次级中心的建模形式,

    我们的实验报告了诱导的吸收和光折变
光栅的高强度,脉冲作为样品的晶体
测试产生随后形成演化。

    我们的实验观察到的多个时间常数的诱
导吸收,黑暗中的光栅组成了衰减系统,

    这可以解释通过将两次验光的数值模型,
这也成功地进行了模拟深能级的中心。

    该模型还考虑了组合的电子和空穴光电,
这也导制了显微镜的高强度光照。

    我们也提出了一个完整的描述数值解的
方法,均匀的照明情况和一阶参
数在非均匀的光照,

    无论是稳态或瞬态的脉冲串都会经过黑
暗演化的模型中限制的制度条件。
出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文地址:http://www.kepu17.com/js/1485.html  
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